ANF Diffraction des rayons X appliquée àla cristallogenèse

 DRX sur poudre, méthodes d’affinements Le Bail et Rietveld, avec un accent mis sur l'analyse quantitative, le désordre cationique (revue des méthodes d'analyse du désordre moyenné à plusieurs échelles), et des exemples d’utilisation du rayonnement synchrotron ;  Caractérisation des défauts étendus par topographie X, imagerie de dislocations, de microbulles, avec une ouverture sur la topographie aux rayons γ et l'AFM ;  Suivi in situ du front de cristallisation et méthodes d’imagerie X : topographie et radiographie X ;  Introduction à la caractérisation des macles sur polycristaux et monocristaux  Orientation Laue avec mise en Å"uvre du logiciel Orient Express. Des visites des services rayons X et de cristallogenèse pourront être organisées.